Diameter | 4“
| 5”
| 6“
| 8”
|
Device Layer | Dopant | Boron, Phos, Arsenic, Antimony, Undoped |
Orientation
| <100>, <111> |
Type | SIMOX, BESOI, Simbond, Smart-cut |
Resistivity
| 0.001-20000 Ohm-cm |
Thickness (um) | 0.2-150 |
The Uniformity | <5% |
BOX Layer | Thickness (um) | 0.4-3
|
Uniformity | <2.5% |
Substrate | Orientation
| <100>, <111> |
Type/Dopant | P Type/Boron , N Type/Phos, N Type/As, N Type/Sb |
Thickness (um) | 300-725
|
Resistivity | 0.001-20000 Ohm-cm |
Surface Finished | P/P, P/E
|
Particle
| <10@.0.3um |
SOI材料的制备方法有多种,过去经常采用的有离子束、电子束或激光区熔再结晶(ZMR),外延横向生长法(ELO)等,这些方法各有特色,但对于制造商用SOI晶片来说,其生产能力和成本因素略显不足。目前,注氧隔离法(SIMOX)和硅片键合法是制造低成本商用SOI晶片的两种主要方法,并在国际上形成了两大生产流派。采用这两种方法都已能制造Φ200mm SOI晶片,并且有望满足0.25μm/0.18μm工艺线的质量要求,它们面临的主要挑战是如何进一步提高产量、降低成本,即以IC制造商可接受的价格规模生产出质量符合要求的SOI晶片以满足IC规模生产的要求。