绝缘片(SOI)

绝缘片(SOI)
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Diameter4“
5”
6“
8”




Device Layer

DopantBoron, Phos, Arsenic, Antimony, Undoped
Orientation
<100>, <111>
TypeSIMOX, BESOI, Simbond, Smart-cut
Resistivity
0.001-20000 Ohm-cm
Thickness (um)0.2-150
The Uniformity<5%


BOX Layer

Thickness (um)0.4-3
Uniformity<2.5%



Substrate

Orientation
<100>, <111>
Type/DopantP Type/Boron , N Type/Phos,   N Type/As, N Type/Sb
Thickness (um)300-725
Resistivity0.001-20000 Ohm-cm
Surface FinishedP/P, P/E
Particle
<10@.0.3um



SOI材料的制备方法有多种,过去经常采用的有离子束、电子束或激光区熔再结晶(ZMR),外延横向生长法(ELO)等,这些方法各有特色,但对于制造商用SOI晶片来说,其生产能力和成本因素略显不足。目前,注氧隔离法(SIMOX)和硅片键合法是制造低成本商用SOI晶片的两种主要方法,并在国际上形成了两大生产流派。采用这两种方法都已能制造Φ200mm SOI晶片,并且有望满足0.25μm/0.18μm工艺线的质量要求,它们面临的主要挑战是如何进一步提高产量、降低成本,即以IC制造商可接受的价格规模生产出质量符合要求的SOI晶片以满足IC规模生产的要求。

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